METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING AN ELECTRODE DEFECT

The invention relates to a defect detection method for detecting a defect in an electrode (1) that is intended to be included in a battery when the electrode (1) is produced, the detection method comprising the following steps: - placing the electrode (1) on a primary conveyor (5) and passing it thr...

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1. Verfasser: RAYAPPAN, Christober Vinoth Raj
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:The invention relates to a defect detection method for detecting a defect in an electrode (1) that is intended to be included in a battery when the electrode (1) is produced, the detection method comprising the following steps: - placing the electrode (1) on a primary conveyor (5) and passing it through an inductive stimulator (2) and a field of view of a thermal imager (3); - heating a surface of the electrode (1) using the inductive stimulator (2); - obtaining thermographic data of the surface of the electrode (1) using the thermal imager (3); - inserting the thermographic data into a computer program (4) in order to extract defect characteristics; - sorting the electrodes according to the extracted defect characteristics. The invention also relates to a defect detection system for implementing the detection method. L'invention concerne un procédé de détection de défaut pour détecter un défaut dans une électrode (1) destinée à être comprise dans une batterie lors de la fabrication de l'électrode (1), ledit procédé de détection comprenant les étapes suivantes : - disposer l'électrode (1) sur un convoyeur primaire (5) et la faire circuler à travers un stimulateur inductif (2) et un champ de vision d'un imageur thermique (3); - chauffer une surface de ladite électrode (1) à l'aide du stimulateur inductif (2); - obtenir des données thermographiques de la surface de l'électrode (1) à l'aide de l'imageur thermique (3); - insérer les données thermographiques dans un programme informatique (4) pour extraire des caractéristiques de défaut; - trier les électrodes en fonction des caractéristiques de défaut extraites. L'invention concerne également un système de détection de défaut permettant la mise en œuvre du procédé de détection.