PROBE PIN, PROBE CARD COMPRISING PROBE PIN, AND METHODS FOR MANUFACTURING SAME

According to the present invention, the flexibility of a probe pin is adjusted by providing a vertical slit and/or a horizontal slit, thereby facilitating elastic deformation. In addition, according to the present invention, the sectional area of the probe pin is adjusted, thereby improving high-frequency signal characteristics thereof. In addition, according to the present invention, a probe pin can be easily inserted into upper and lower plates by using multiple spacing bodies which are spaced apart by a vertical slit and/or a horizontal slit, and the inserted probe pin is prevented from detaching. Selon la présente invention, la flexibilité d'une borne de détection est ajustée grâce à la présence d'une fente verticale et/ou d'une fente horizontale, ce qui facilite la déformation élastique. De plus, selon la présente invention, la section transversale de la borne de détection est ajustée, ce qui permet d'améliorer les caractéristiques des signaux haute fréquence de celle-ci. De plus, selon la présente invention, une borne de détection peut être facilement insérée dans des plaques supérieure et inférieure à l'aide de multiples corps d'espacement qui sont séparés par une fente verticale et/ou une fente horizontale, et le détachement de la borne de détection insérée est évité. 본 발명은 수직슬릿 및/또는 수평슬릿을 구비하여 프로브 핀의 가요성을 조절하여 탄성변형을 용이하게 한다. 또한, 본 발명은 프로브 핀의 단면적을 조절하여 고주파 신호 특성을 우수하게 유지한다. 또한, 본 발명은 수직슬릿 및/또는 수평슬릿에 의해 이격되는 복수의 이격바디를 활용하여, 상부플레이트 및 하부플레이트에 프로브 핀을 용이하게 삽입 가능하게 하고, 삽입된 프로브 핀의 이탈을 방지한다.