AGING CHECK FOR LOW-VOLTAGE COMPONENTS

Die Erfindung betrifft die Überprüfung der Alterung einer Niederspannungskomponente, welche zur Einbringung in einen Stromkreis ausgestaltet ist. Dabei wird für einen ersten Zeitpunkt eine erste auf die Niederspannungskomponente bezogene Temperaturinformation ermittelt, für einen zweiten Zeitpunkt eine zweite auf die Niederspannungskomponente bezogene Temperaturinformation ermittelt und mit Hilfe der beiden Temperaturinformationen eine erste Information ermittelt, die ein Maß für die Erwärmung zwischen den Zeitpunkten darstellt. Diese erste Information wird mit einer zweiten Information verglichen, welche ein Maß für eine vergleichbare Erwärmung zwischen den Zeitpunkten für eine entsprechende Niederspannungskomponente in einem bekannten Zustand darstellt. Mit Hilfe des Unterschieds zwischen der ersten und der zweiten Information wird dann eine Aussage zur Alterung der Niederspannungskomponenten abgeleitet. Die Erfindung erlaubt eine aufwandsarme und effiziente Überprüfung der Alterung einer Niederspannungskomponente. The invention relates to the checking of the aging of a low-voltage component which is designed to be inserted into a circuit. According to the invention, a first item of temperature information related to the low-voltage component is determined for a first point in time, a second item of temperature information related to the low-voltage component is determined for a second point in time, and a first item of information representing a measure of the heating between the points in time is determined using the two items of temperature information. Said first item of information is compared with a second item of information representing a measure of comparable heating between the points in time for a corresponding low-voltage component in a known state. A statement about the aging of the low-voltage components is then derived using the difference between the first and the second item of information. The invention allows the aging of a low-voltage component to be checked simply and efficiently. L'invention concerne la vérification du vieillissement d'un composant basse tension qui est conçu pour être inséré dans un circuit. Selon l'invention, une première information de température relative au composant basse tension est déterminée pour un premier instant, une deuxième information de température relative au composant basse tension est déterminée pour un deuxième instant, et une première information représentative d'une mesure du chauffage entre le