INSPECTION CONDITION DETERMINATION SYSTEM

The present invention makes it possible to suitably determine inspection conditions in an inspection system. In a computer 200 which comprises a processor 202 and determines the inspection conditions of the inspection system with respect to an inspection object, the processor 202 is configured to: r...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: MIYAMOTO, Atsushi, OSAKI, Mayuka, KASAI, Hiroaki
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:The present invention makes it possible to suitably determine inspection conditions in an inspection system. In a computer 200 which comprises a processor 202 and determines the inspection conditions of the inspection system with respect to an inspection object, the processor 202 is configured to: receive, with respect to the inspection in the inspection system, at least two of element evaluation indexes and an input of a user request pertaining to a target of the element evaluation indexes, the element evaluation indexes including a rate of inspection correct answers, a misinformation rate, an inspection time, inspection reproducibility, a training time, the device cost, the operation cost, the device robustness, versatility of inspection, the lifespan, ease of assembly, accuracy of required assembly, robustness to environment, ease of maintenance, clarity of the grounds of determination of recognition processing, or ease of recognition of detection points; generate evaluation indexes based on the plurality of element evaluation indexes for the inspection in the inspection system on the basis of the user request; evaluate, through the evaluation indexes, the inspection result in the plurality of inspection conditions; and determine suitable inspection conditions from among the plurality of inspection conditions. La présente invention permet de déterminer de manière appropriée des conditions d'inspection dans un système d'inspection. Dans un ordinateur 200 qui comprend un processeur 202 et détermine les conditions d'inspection du système d'inspection par rapport à un objet d'inspection, le processeur 202 est configuré pour : recevoir, par rapport à l'inspection dans le système d'inspection, au moins deux parmi des indices d'évaluation d'élément et une entrée d'une requête d'utilisateur se rapportant à une cible des indices d'évaluation d'élément, les indices d'évaluation d'élément comprenant un taux de réponses correctes d'inspection, un taux de mauvaise information, un temps d'inspection, une reproductibilité d'inspection, un temps d'entraînement, le coût de dispositif, le coût de fonctionnement, la robustesse de dispositif, la polyvalence d'inspection, la durée de vie, la facilité d'assemblage, la précision d'assemblage requis, la robustesse à l'environnement, la facilité d'entretien, la clarté des motifs de détermination de traitement de reconnaissance, ou la facilité de reconnaissance de points de détection ; générer des indices d'évaluation sur la bas