DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR OPERATING SAME

A display device according to an embodiment comprises: a display panel comprising multiple pixels; a memory for storing one or more instructions; and one or more processors. The one or more processors may execute the one or more instructions so as to change the light-emitting pattern of pixels included in the area of contact between the display panel and an object, measure a first reflection pattern reflected in the area of contact according to the changed light-emitting pattern, detect the surface roughness of the object on the basis of the first reflection pattern, estimate the degree of deformation of a transparent layer of the display panel caused by contact between the display panel and the object, measure a second reflection pattern reflected in the area of contact on the basis of the degree of deformation of the transparent layer, and detect the hardness of the object on the basis of the second reflection pattern. Selon un mode de réalisation, l'invention concerne un dispositif d'affichage qui comprend : un panneau d'affichage comprenant de multiples pixels ; une mémoire pour stocker une ou plusieurs instructions ; et un ou plusieurs processeurs. Le ou les processeurs peuvent : exécuter la ou les instructions de façon à modifier le motif électroluminescent de pixels inclus dans la zone de contact entre le panneau d'affichage et un objet ; mesurer un premier motif de réflexion réfléchi dans la zone de contact selon le motif électroluminescent modifié ; détecter la rugosité de surface de l'objet sur la base du premier motif de réflexion ; estimer le degré de déformation d'une couche transparente du panneau d'affichage provoquée par un contact entre le panneau d'affichage et l'objet ; mesurer un second motif de réflexion réfléchi dans la zone de contact sur la base du degré de déformation de la couche transparente ; et détecter la dureté de l'objet sur la base du second motif de réflexion. 일 실시예에 따른 디스플레이 장치에 있어서, 복수의 화소들을 포함하는 디스플레이 패널; 하나 이상의 인스트럭션을 저장하는 메모리; 및 하나 이상의 프로세서를 포함하며, 상기 하나 이상의 프로세서는 상기 하나 이상의 인스트럭션을 실행하여, 상기 디스플레이 패널과 객체(object) 간의 접촉 영역에 포함된 화소들의 발광 패턴을 변경하고, 상기 변경된 발광 패턴에 따라 상기 접촉 영역에서 반사되는 제1 반사 패턴을 측정하고, 상기 제1 반사 패턴에 기초하여 상기 객체의 표면 조도를 검출하고, 상기 디스플레이 패널과 객체 간의 접촉으로 인해 발생된 상기 디스플레이 패널의 투명층의 변형 정도를 추정하고, 상기 투명층의 변형 정도에 기초하여 상기 접촉 영역에서 반사되는 제2 반사 패턴을 측정하고, 상기 제2 반사 패턴에 기초하여 상기 객체의 경도를 검출할 수 있다.