FLOW CELL BASED MOTION SYSTEM CALIBRATION AND CONTROL METHODS

The presently described techniques relate generally to providing motion feedback (e.g., motion system calibration and/or sample alignment) in the context of an imaging system (such as a time delay and integration (TDI) based imaging system). The architecture and techniques discussed may achieve nano...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: HAGE, Matthew, EARNEY, John, HOLST, Gregory, MAJETTE, Mark
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:The presently described techniques relate generally to providing motion feedback (e.g., motion system calibration and/or sample alignment) in the context of an imaging system (such as a time delay and integration (TDI) based imaging system). The architecture and techniques discussed may achieve nanoscale control and calibration of a movement feedback system without a high-resolution encoder subsystem or, in the alternative embodiments, with a lower resolution (and correspondingly less expensive) encoder subsystem than might otherwise be employed. By way of example, certain embodiments described herein relate to ascertaining or calibrating linear motion of a sample holder surface using nanoscale features (e.g., sample sites or nanowells or lithographically patterned features) provided on a surface of the sample holder. Les techniques de la présente invention concernent, d'une manière générale, la fourniture d'une rétroaction de mouvement (par exemple, un étalonnage de système de mouvement et/ou un alignement d'échantillon) dans le contexte d'un système d'imagerie (tel qu'un système d'imagerie basé sur un retard et une intégration (TDI)). L'architecture et les techniques de l'invention peuvent réaliser une commande et un étalonnage à l'échelle nanométrique d'un système de rétroaction de mouvement sans sous-système de codeur à haute résolution ou, dans des modes de réalisation alternatifs, avec un sous-système de codeur à plus faible résolution (et en conséquence moins coûteux) que ce qui pourrait autrement être employé. Par exemple, certains modes de réalisation de la présente invention concernent la détermination ou l'étalonnage d'un mouvement linéaire d'une surface porte-échantillon à l'aide de caractéristiques à l'échelle nanométrique (par exemple, des caractéristiques de sites d'échantillon ou de nanopuits ou de motif lithographique) prévues sur la surface porte-échantillon.