WAVELENGTH MEASUREMENT DEVICE, DATA PROCESSING DEVICE, WAVELENGTH MEASUREMENT METHOD AND PROGRAM

Provided are: a wavelength measurement device which is capable of contributing to efficient measurement by shortening measurement time when measuring a representative wavelength of each light-emitting element chip by causing a plurality of light-emitting element chips included in a measurement target to excite and emit light; a data processing device; a wavelength measurement method; and a program. The wavelength measurement device is equipped with: a means 3 for spectrally diffracting light which is excited and emitted by a light-emitting element chip and which comes from a plurality of microscopic sites in a one-dimensional direction on a measurement target 100 which has a plurality of light-emitting element chips 101; a means 300 for scanning the spectral diffraction means and/or the measurement target in a direction which is perpendicular to the one-dimensional direction; a means 5 for receiving light at each spectrally diffracted microscopic site in each scanning; a means for identifying the position of the light-emitting element chip on an image comprising light-receiving data for each microscopic site obtained by the light-receiving means on the basis of the scanning amount and the position of the light-emitting element chip relative to a reference position on the measurement target; and a calculation means 6 for calculating a representative wavelength for the light-emitting element chip on the basis of light-receiving data which corresponds to the identified light-emitting element chip position. L'invention concerne : un dispositif de mesure de longueur d'onde qui peut contribuer à une mesure efficace en écourtant un temps de mesure lors de la mesure d'une longueur d'onde représentative de chaque puce d'élément électroluminescent en provoquer une pluralité de puces d'élément électroluminescent incluses dans une cible de mesure à exciter et à émettre de la lumière ; un dispositif de traitement de données ; un procédé de mesure de longueur d'onde ; et un programme. Le dispositif de mesure de longueur d'onde est équipé : d'un moyen (3) pour diffracter de manière spectrale la lumière qui est excitée et émise par une puce d'élément électroluminescent et qui provient d'une pluralité de sites microscopiques dans une direction unidimensionnelle sur une cible de mesure (100) qui comporte une pluralité de puces d'élément électroluminescent (101) ; un moyen (300) pour balayer le moyen de diffraction spectrale et/ou la cible de mesure dans une direction qui es