IMPROVED DEFLECTOMETRY METHOD AND ASSOCIATED SYSTEM

The invention relates to a deflectometry method for analysing a reflective surface (S) with a system comprising a display (Disp) and an imaging optical unit (IO), the method comprising the steps of: - A sequentially displaying n light images Ili on the display (Disp), a light image Ili having a binarised light intensity obtained by rasterising the pattern M(x-xi), - B detecting, on the matrix detector (Det), the n images Idi obtained by reflecting the n light images Ili onto the reflective surface (S), - C determining a function referred to as the object absolute phase function (fapS) on the basis of the n detected images Idi, the function g further satisfying the equation: g(k.M) = g(M) with any real k, - D comparing the object absolute phase function (fapS) with an absolute phase function (fapMref) referred to as the reference absolute phase function and deducing information therefrom on the shape of the surface. L'invention concerne un procédé d'analyse d'une surface réfléchissante (S) par déflectométrie, avec un système comprenant un afficheur (Disp) et une optique d'imagerie (IO), le procédé comprenant les étapes consistant à : - A afficher successivement sur l'afficheur (Disp) n images lumineuses Ili, une image lumineuse Ili présentant une intensité lumineuse binarisée obtenue par tramage du motif M(x-xi), - B détecter sur le détecteur matriciel (Det) n images Idi obtenues par réflexion des n images lumineuses Ili sur la surface réfléchissante (S), - C déterminer une fonction dite fonction de phase absolue objet (fapS) à partir des n images détectées Idi, la fonction g vérifiant en outre la relation : g(k.M) = g(M) avec k réel quelconque, - D comparer la fonction de phase absolue objet (fapS) à une fonction de phase absolue (fapMref) dite de référence, et en déduire des informations sur la forme de ladite surface.