ULTRA-HIGH SPATIAL RESOLUTION STRUCTURED LIGHT SCANNER AND APPLICATIONS THEREOF

A structured light three-dimensional scanner (SLS) is described for digitally reconstructing surface topography useful in additive manufacturing (AM) processes. In an example, the structured light three-dimensional scanner includes a first imaging device having a first lens, a second imaging device...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: WANG, Rongxuan, KONG, Zhenyu
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A structured light three-dimensional scanner (SLS) is described for digitally reconstructing surface topography useful in additive manufacturing (AM) processes. In an example, the structured light three-dimensional scanner includes a first imaging device having a first lens, a second imaging device having a second lens, and a controller, where the first imaging device and the second imaging device collectively have a field-of-view less than or equal to 50 x 50 mm. The controller is configured to direct the first imaging device and the second imaging device to capture calibration images of a calibration target, the calibration target having a predetermined pattern thereon, calibrate the structured light three-dimensional scanner using the calibration images, direct the first imaging device and the second imaging device to capture images of the object to be scanned, and perform triangulation based on the images captured of the object to generate three-dimensional data of the object. La présente invention concerne un scanner tridimensionnel à lumière structurée (SLS) permettant de reconstruire numériquement la topographie de la surface utile dans les processus de fabrication additive (AM). Dans un exemple, le scanner tridimensionnel à lumière structurée comprend un premier dispositif d'imagerie doté d'un premier objectif, un second dispositif d'imagerie doté d'un deuxième objectif, et un dispositif de commande, le premier dispositif d'imagerie et le deuxième dispositif d'imagerie présentant collectivement un champ de vision inférieur ou égal à 50 x 50 mm. Le dispositif de commande est conçu pour diriger le premier dispositif d'imagerie et le deuxième dispositif d'imagerie afin de capturer des images d'étalonnage d'une cible d'étalonnage, la cible d'étalonnage présentant un motif prédéterminé, pour étalonner le scanner tridimensionnel à lumière structurée à l'aide des images d'étalonnage, pour diriger le premier dispositif d'imagerie et le deuxième dispositif d'imagerie afin de capturer des images de l'objet à numériser, et pour effectuer une triangulation fondée sur les images capturées de l'objet afin de générer des données tridimensionnelles de l'objet.