METHOD FOR MANUFACTURING AN OPTICAL FILTER, OPTICAL FILTER SYSTEM, OPTICAL MEASUREMENT DEVICE AND USE

The invention relates to a method for dicing a substrate coated with an optical filter coating. The first substrate is coated with an optical filter coating configured with a specific spectral sensitivity. The method comprises the steps of: forming a substrate stack by disposing a second substrate o...

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1. Verfasser: WELTJENS, Wim
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:The invention relates to a method for dicing a substrate coated with an optical filter coating. The first substrate is coated with an optical filter coating configured with a specific spectral sensitivity. The method comprises the steps of: forming a substrate stack by disposing a second substrate over the optical filter coating of the coated substrate such that the optical filter coating forms an interlayer between the first substrate and the second substrate; and dicing the substrate stack into a plurality of individual portions. Each portion comprises a part of the coated substrate and a part of the second substrate with a part of the optical filter coating as an interlayer in between the part of the first substrate and the part of the second substrate. The individual portions may serve as filters of an optical filter system. The optical filter system may be part of an optical measurement device. L'invention concerne un procédé de découpage en dés d'un substrat revêtu d'un revêtement de filtre optique. Le premier substrat est revêtu d'un revêtement de filtre optique configuré avec une sensibilité spectrale spécifique. Le procédé comprend les étapes consistant à : former un empilement de substrats en disposant un second substrat sur le revêtement de filtre optique du substrat revêtu de telle sorte que le revêtement de filtre optique forme une couche intermédiaire entre le premier substrat et le second substrat ; et découper l'empilement de substrats en une pluralité de parties individuelles. Chaque partie comprend une partie du substrat revêtu et une partie du second substrat avec une partie du revêtement de filtre optique en tant que couche intermédiaire entre la partie du premier substrat et la partie du second substrat. Les parties individuelles peuvent servir de filtres d'un système de filtre optique. Le système de filtre optique peut faire partie d'un dispositif de mesure optique.