METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLED ION IMPLANTATION
A method of operating a beamline ion implanter may include performing, in an ion implanter, a first implant procedure to implant a dopant of a first polarity into a given semiconductor substrate, and generating an estimated implant dose of the dopant of the first polarity based upon a set of filtere...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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