APPARATUS AND METHOD FOR CAPACITIVE TOUCH DETECTION

A method of operating a sensing element to sense a parameter, the sensing element comprising a sense TFT having a gate connection connected to a sensing electrode, the method comprising: providing a reference current (Ibias) through the sense TFT; providing a reference voltage (Vbias) at the gate co...

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Hauptverfasser: DERCKX, Henricus, VAN LIER, Wilhelmus
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A method of operating a sensing element to sense a parameter, the sensing element comprising a sense TFT having a gate connection connected to a sensing electrode, the method comprising: providing a reference current (Ibias) through the sense TFT; providing a reference voltage (Vbias) at the gate connection to obtain a reference sample voltage (Vcap) from a source connection of the sense TFT; providing, at the gate connection, an indicator voltage (Vgate) dependent upon the parameter to be sensed whilst the reference current (Ibias) continues to be provided through the sense TFT to obtain a sensing voltage from the source connection of the sense TFT; and sensing the parameter based on the difference between the sensing voltage (Vs) and the reference sample voltage (Vcap). Procédé de fonctionnement d'un élément de détection permettant de détecter un paramètre, l'élément de détection comprenant un TFT de détection présentant une connexion de grille connectée à une électrode de détection, le procédé consistant : à fournir un courant de référence (Ibias) à travers le TFT de détection ; à fournir une tension de référence (Vbias) au niveau de la connexion de grille pour obtenir une tension d'échantillon de référence (Vcap) à partir d'une connexion de source du TFT de détection ; à fournir, au niveau de la connexion de grille, une tension d'indicateur (Vgate) en fonction du paramètre devant être détecté tandis que le courant de référence (Ibias) continue d'être fourni à travers le TFT de détection pour obtenir une tension de détection à partir de la connexion de source du TFT de détection ; et à détecter le paramètre sur la base de la différence entre la tension de détection (Vs) et la tension d'échantillon de référence (Vcap).