SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SELF-DIAGNOSTIC METHOD

A semiconductor integrated circuit 100 comprises a ΔΣＡ／Ｄ converter 110 and a built-in self test (BIST) circuit 200. The BIST circuit 200 comprises a waveform generator 210 and a processor 220. The waveform generator 210 generates a test signal having a prescribed frequency f0 with an N-value (N is 2 or 3) , and supplies the test signal to the ΔΣＡ／Ｄ converter 110. A processing circuit 220 subjects the output of the ΔΣＡ／Ｄ converter 110 to high-speed Fourier transformation, and on the basis of the obtained spectrum, determines if the ΔΣＡ／Ｄ converter 110 is defective. L'invention concerne un circuit intégré à semi-conducteur 100 comprenant un convertisseur ΔΣA / N 110 et un circuit d'auto-test intégré (BIST) 200. Le circuit BIST 200 comprend un générateur de forme d'onde 210 et un processeur 220. Le générateur de forme d'onde 210 génère un signal de test ayant une fréquence f0 prescrite avec une valeur N (N valant 2 ou 3) et fournit le signal de test au convertisseur ΔΣA / N 110. Un circuit de traitement 220 soumet la sortie du convertisseur ΔΣA / N 110 à une transformée de Fourier à grande vitesse et, sur la base du spectre obtenu, détermine si le convertisseur ΔΣA / N (110) est défectueux. 半導体集積回路１００は、ΔΣＡ／Ｄコンバータ１１０とＢＩＳＴ回路２００を備える。ＢＩＳＴ回路２００は、波形発生器２１０および処理部２２０を備える。波形発生器２１０は、Ｎ値（Ｎは２または３）の所定周波数ｆ０を有するテスト信号を生成し、ΔΣＡ／Ｄコンバータ１１０に供給する。処理部２２０は、ΔΣＡ／Ｄコンバータ１１０の出力を高速フーリエ変換し、得られたスペクトルにもとづいてΔΣＡ／Ｄコンバータ１１０の良否を判定する。