TECHNOLOGIES FOR SIMULTANEOUS SAMPLING OF MORE THAN ONE SAMPLE PLANE USING A MIRRORED PINHOLE ARRAY

Technologies are disclosed for simultaneous measurement of one or more properties of a sample at one or more sample depths that may be performed by an imaging device. The imaging device may comprise a mirror. The device may comprise a mirrored pinhole array that may comprise one or more pinholes. A...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: URBAN, Benny E, SUBHASH, Hrebesh Molly
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Technologies are disclosed for simultaneous measurement of one or more properties of a sample at one or more sample depths that may be performed by an imaging device. The imaging device may comprise a mirror. The device may comprise a mirrored pinhole array that may comprise one or more pinholes. A mirrored pinhole array cavity may be formed by an arrangement of the mirror and the mirrored pinhole array. The mirrored pinhole array may be configured to focus light from one or more sample planes within the mirrored pinhole array cavity. The device may comprise at least one lens that may be arranged with the mirrored pinhole array to collect the focused light from the one or more sample planes via at least one pinhole of the one or more pinholes. The device may comprise a detector arranged with the at least one lens to receive the collected light. La présente invention concerne des technologies pour la mesure simultanée d'une ou de plusieurs propriétés d'un échantillon à une ou plusieurs profondeurs d'échantillon qui peuvent être effectuées par un dispositif d'imagerie. Le dispositif d'imagerie peut comprendre un miroir. Le dispositif peut comprendre un réseau de trous d'épingle à miroir qui peut comprendre un ou plusieurs trous d'épingle. Une cavité de réseau de trous d'épingle à miroir peut être formée par un agencement du miroir et du réseau de trous d'épingle à miroir. Le réseau de trous d'épingle à miroir peut être configuré pour focaliser la lumière provenant d'un ou de plusieurs plans d'échantillon à l'intérieur de la cavité de réseau de trous d'épingle à miroir. Le dispositif peut comprendre au moins une lentille qui peut être agencée avec le réseau de trous d'épingle à miroir pour collecter la lumière focalisée à partir du ou des plans d'échantillon par l'intermédiaire d'au moins un trou d'épingle du ou des trous d'épingle. Le dispositif peut comprendre un détecteur agencé avec la ou les lentilles pour recevoir la lumière collectée.