FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS APPARATUS

This fluorescent X-ray analysis method includes: a step for disposing a sample in a fluorescent X-ray analysis apparatus (S1); a step for applying a desired dead time rate to a paralyzed model and calculating a reference tube current of an X-ray tube (S3); a step for determining a measurement tube current of the X-ray tube on the basis of the reference tube current and causing the measurement tube current to flow in the X-ray tube to irradiate the sample with an X-ray (S4); and a step for analyzing a fluorescent X-ray obtained by irradiating the sample with the X-ray (S5). As a result, a desired dead time of a counting circuit can be accurately obtained. Ce procédé d'analyse par rayons X fluorescents comprend : une étape consistant à disposer un échantillon dans un appareil d'analyse par rayons X fluorescents (S1); une étape consistant à appliquer un taux de temps mort souhaité à un modèle paralysé et à calculer un courant de tube de référence d'un tube à rayons X (S3) ; une étape consistant à déterminer un courant de tube de mesure du tube à rayons X sur la base du courant de tube de référence et à amener le courant de tube de mesure à circuler dans le tube à rayons X pour irradier l'échantillon avec des rayons X (S4) ; et une étape consistant à analyser le rayon X fluorescent obtenu par l'irradiation de l'échantillon avec les rayons X (S5). Par conséquent, un temps mort souhaité d'un circuit de comptage peut être obtenu avec précision. 蛍光Ｘ線分析方法は、試料を蛍光Ｘ線分析装置に配置するステップ（Ｓ１）と、所望のデッドタイム率をまひ型モデルに適用して、Ｘ線管の基準管電流を算出するステップ（Ｓ３）と、基準管電流に基づいてＸ線管の測定用管電流を決定し、測定用管電流をＸ線管に流して試料にＸ線を照射するステップ（Ｓ４）と、Ｘ線を試料に照射して得られた蛍光Ｘ線を分析するステップ（Ｓ５）とを備える。これにより、計数回路の所望のデッドタイムを精度良く得ることができる。