METHOD AND DEVICE FOR MEASURING A PROCESS IN AN OBJECT
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Vermessung zumindest eines Ablaufs in einem Objekt. Dabei wird ein Wechselfeld in das Objekt eingestrahlt und empfangen, nachdem es das Objekt durchlaufen hat. Mit einem statistischen Modell wird dann zeitabhängig zumindest ein Merkmal de...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Vermessung zumindest eines Ablaufs in einem Objekt. Dabei wird ein Wechselfeld in das Objekt eingestrahlt und empfangen, nachdem es das Objekt durchlaufen hat. Mit einem statistischen Modell wird dann zeitabhängig zumindest ein Merkmal des Ablaufs und/oder eine zeitliche Darstellung des Ablaufs erzeugt.
The invention relates to a method and to a device for measuring at least one process in an object. An alternating field is irradiated into the object and received once it has passed through the object. At least one feature of the process and/or a temporal representation of the process is then generated time-dependently using a statistical model.
L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure d'au moins un processus dans un objet. L'objet est exposé à un rayonnement d'un champ alternatif et celui-ci est reçu une fois qu'il a traversé l'objet. Au moins une caractéristique du processus et/ou une représentation temporelle du processus sont ensuite générées en fonction du temps à l'aide d'un modèle statistique. |
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