LOW-K DIELECTRIC PROTECTION DURING PLASMA DEPOSITION OF SILICON NITRIDE

Methods and apparatuses for depositing silicon nitride using a plasma over low-k dielectric material while protecting the low-k dielectric material are provided. The methods comprise providing a substrate having a dielectric material deposited thereon, depositing a protective layer on the dielectric...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: MCKERROW, Andrew John, BHIMARASETTI, Gopinath, GONG, Bo, GUPTA, Awnish, PETRAGLIA, Jennifer Leigh, AUSTIN, Dustin Zachary
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Methods and apparatuses for depositing silicon nitride using a plasma over low-k dielectric material while protecting the low-k dielectric material are provided. The methods comprise providing a substrate having a dielectric material deposited thereon, depositing a protective layer on the dielectric material in a plasma-free environment, and after depositing the protective layer, exposing the substrate to a first plasma to deposit a first silicon nitride while converting at least a portion of the protective layer to second silicon nitride. Procédés et appareils destinés à déposer du nitrure de silicium au moyen d'un plasma sur un matériau diélectrique à faible k tout en protégeant le matériau diélectrique à faible k. Les procédés consistent à fournir un substrat sur lequel est déposé un matériau diélectrique, à déposer une couche de protection sur le matériau diélectrique dans un environnement exempt de plasma, et après le dépôt de la couche de protection, à exposer le substrat à un premier plasma pour déposer un premier nitrure de silicium tout en convertissant au moins une partie de la couche de protection en second nitrure de silicium.