LOW-K DIELECTRIC PROTECTION DURING PLASMA DEPOSITION OF SILICON NITRIDE
Methods and apparatuses for depositing silicon nitride using a plasma over low-k dielectric material while protecting the low-k dielectric material are provided. The methods comprise providing a substrate having a dielectric material deposited thereon, depositing a protective layer on the dielectric...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Methods and apparatuses for depositing silicon nitride using a plasma over low-k dielectric material while protecting the low-k dielectric material are provided. The methods comprise providing a substrate having a dielectric material deposited thereon, depositing a protective layer on the dielectric material in a plasma-free environment, and after depositing the protective layer, exposing the substrate to a first plasma to deposit a first silicon nitride while converting at least a portion of the protective layer to second silicon nitride.
Procédés et appareils destinés à déposer du nitrure de silicium au moyen d'un plasma sur un matériau diélectrique à faible k tout en protégeant le matériau diélectrique à faible k. Les procédés consistent à fournir un substrat sur lequel est déposé un matériau diélectrique, à déposer une couche de protection sur le matériau diélectrique dans un environnement exempt de plasma, et après le dépôt de la couche de protection, à exposer le substrat à un premier plasma pour déposer un premier nitrure de silicium tout en convertissant au moins une partie de la couche de protection en second nitrure de silicium. |
---|