SURFACE INHIBITION ATOMIC LAYER DEPOSITION
Atomic layer deposition (ALD) of dielectric material in gaps that facilitates void-free bottom-up gap fill can involve flowing a reaction inhibitor during the ALD process. In some embodiments, the reaction inhibitor is flowed during at least part of a plasma operation of a plasma-enhanced ALD (PEALD...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Atomic layer deposition (ALD) of dielectric material in gaps that facilitates void-free bottom-up gap fill can involve flowing a reaction inhibitor during the ALD process. In some embodiments, the reaction inhibitor is flowed during at least part of a plasma operation of a plasma-enhanced ALD (PEALD) process.
Dépôt de couches atomiques (ALD) de matériau diélectrique dans des espaces qui facilite le remplissage d'espaces de bas en haut sans vide, pouvant consister à faire circuler un inhibiteur de réaction pendant le processus ALD. Dans certains modes de réalisation, l'inhibiteur de réaction circule pendant au moins une partie d'une opération au plasma d'un processus ALD activé par plasma (PEALD). |
---|