AUTOMATED APPLICATION OF DRIFT CORRECTION TO SAMPLE STUDIED UNDER ELECTRON MICROSCOPE
Methods and systems for calibrating a transmission electron microscope are disclosed. A fiducial mark on the sample holder is used to identify known reference points so that a current collection area and a through-hole on the sample holder can be located. A plurality of beam current and beam area me...
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| creator | NACKASHI, David P GARDINER, Daniel Stephen FRANKS, Alan Philip MARUSAK, Katherine Elizabeth UEBEL, Mark MARTHE JR., Nelson L JACOBS, Benjamin FRIEND, Joshua Brian DAMIANO JR., John LARSON, Benjamin Bradshaw WALDEN II, Franklin Stampley |
| description | Methods and systems for calibrating a transmission electron microscope are disclosed. A fiducial mark on the sample holder is used to identify known reference points so that a current collection area and a through-hole on the sample holder can be located. A plurality of beam current and beam area measurements are taken, and calibration tables are extrapolated from the measurements for a full range of microscope parameters. The calibration tables are then used to determine electron dose of a sample during an experiment at a given configuration.
La divulgation concerne des procédés et des systèmes d'étalonnage d'un microscope électronique à transmission. Une marque de repère sur le porte-échantillon est utilisée pour identifier des points de référence connus de telle sorte qu'une zone de collecte de courant et un trou traversant sur le porte-échantillon peuvent être situés. Une pluralité de mesures de courant de faisceau et de zone de faisceau sont prises, et des tables d'étalonnage sont extrapolées à partir des mesures pour une plage complète de paramètres de microscope. Les tables d'étalonnage sont ensuite utilisées pour déterminer une dose d'électrons d'un échantillon pendant une expérience à une configuration donnée. |
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La divulgation concerne des procédés et des systèmes d'étalonnage d'un microscope électronique à transmission. Une marque de repère sur le porte-échantillon est utilisée pour identifier des points de référence connus de telle sorte qu'une zone de collecte de courant et un trou traversant sur le porte-échantillon peuvent être situés. Une pluralité de mesures de courant de faisceau et de zone de faisceau sont prises, et des tables d'étalonnage sont extrapolées à partir des mesures pour une plage complète de paramètres de microscope. Les tables d'étalonnage sont ensuite utilisées pour déterminer une dose d'électrons d'un échantillon pendant une expérience à une configuration donnée.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ; ELECTRICITY</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20231116&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2023147406A3$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20231116&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2023147406A3$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>NACKASHI, David P</creatorcontrib><creatorcontrib>GARDINER, Daniel Stephen</creatorcontrib><creatorcontrib>FRANKS, Alan Philip</creatorcontrib><creatorcontrib>MARUSAK, Katherine Elizabeth</creatorcontrib><creatorcontrib>UEBEL, Mark</creatorcontrib><creatorcontrib>MARTHE JR., Nelson L</creatorcontrib><creatorcontrib>JACOBS, Benjamin</creatorcontrib><creatorcontrib>FRIEND, Joshua Brian</creatorcontrib><creatorcontrib>DAMIANO JR., John</creatorcontrib><creatorcontrib>LARSON, Benjamin Bradshaw</creatorcontrib><creatorcontrib>WALDEN II, Franklin Stampley</creatorcontrib><title>AUTOMATED APPLICATION OF DRIFT CORRECTION TO SAMPLE STUDIED UNDER ELECTRON MICROSCOPE</title><description>Methods and systems for calibrating a transmission electron microscope are disclosed. A fiducial mark on the sample holder is used to identify known reference points so that a current collection area and a through-hole on the sample holder can be located. A plurality of beam current and beam area measurements are taken, and calibration tables are extrapolated from the measurements for a full range of microscope parameters. The calibration tables are then used to determine electron dose of a sample during an experiment at a given configuration.
La divulgation concerne des procédés et des systèmes d'étalonnage d'un microscope électronique à transmission. Une marque de repère sur le porte-échantillon est utilisée pour identifier des points de référence connus de telle sorte qu'une zone de collecte de courant et un trou traversant sur le porte-échantillon peuvent être situés. Une pluralité de mesures de courant de faisceau et de zone de faisceau sont prises, et des tables d'étalonnage sont extrapolées à partir des mesures pour une plage complète de paramètres de microscope. Les tables d'étalonnage sont ensuite utilisées pour déterminer une dose d'électrons d'un échantillon pendant une expérience à une configuration donnée.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS</subject><subject>ELECTRICITY</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNy0EKwjAQheFsXIh6hwHXQm2KrkMywUDSCekEl6VIXIkW6v0xiAdw9eDne2uRVWYKitGAitE7rdhRD2TBJGcZNKWE-tuYYFAheoSBs3H1kXuDCdBXkCoITicaNEXcitV9eixl99uN2FtkfTmU-TWWZZ5u5Vne45XappXH7tw1JyXlf-oDPLgxjQ</recordid><startdate>20231116</startdate><enddate>20231116</enddate><creator>NACKASHI, David P</creator><creator>GARDINER, Daniel Stephen</creator><creator>FRANKS, Alan Philip</creator><creator>MARUSAK, Katherine Elizabeth</creator><creator>UEBEL, Mark</creator><creator>MARTHE JR., Nelson L</creator><creator>JACOBS, Benjamin</creator><creator>FRIEND, Joshua Brian</creator><creator>DAMIANO JR., John</creator><creator>LARSON, Benjamin Bradshaw</creator><creator>WALDEN II, Franklin Stampley</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20231116</creationdate><title>AUTOMATED APPLICATION OF DRIFT CORRECTION TO SAMPLE STUDIED UNDER ELECTRON MICROSCOPE</title><author>NACKASHI, David P ; GARDINER, Daniel Stephen ; FRANKS, Alan Philip ; MARUSAK, Katherine Elizabeth ; UEBEL, Mark ; MARTHE JR., Nelson L ; JACOBS, Benjamin ; FRIEND, Joshua Brian ; DAMIANO JR., John ; LARSON, Benjamin Bradshaw ; WALDEN II, Franklin Stampley</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2023147406A33</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2023</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS</topic><topic>ELECTRICITY</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>NACKASHI, David P</creatorcontrib><creatorcontrib>GARDINER, Daniel Stephen</creatorcontrib><creatorcontrib>FRANKS, Alan Philip</creatorcontrib><creatorcontrib>MARUSAK, Katherine Elizabeth</creatorcontrib><creatorcontrib>UEBEL, Mark</creatorcontrib><creatorcontrib>MARTHE JR., Nelson L</creatorcontrib><creatorcontrib>JACOBS, Benjamin</creatorcontrib><creatorcontrib>FRIEND, Joshua Brian</creatorcontrib><creatorcontrib>DAMIANO JR., John</creatorcontrib><creatorcontrib>LARSON, Benjamin Bradshaw</creatorcontrib><creatorcontrib>WALDEN II, Franklin Stampley</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>NACKASHI, David P</au><au>GARDINER, Daniel Stephen</au><au>FRANKS, Alan Philip</au><au>MARUSAK, Katherine Elizabeth</au><au>UEBEL, Mark</au><au>MARTHE JR., Nelson L</au><au>JACOBS, Benjamin</au><au>FRIEND, Joshua Brian</au><au>DAMIANO JR., John</au><au>LARSON, Benjamin Bradshaw</au><au>WALDEN II, Franklin Stampley</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>AUTOMATED APPLICATION OF DRIFT CORRECTION TO SAMPLE STUDIED UNDER ELECTRON MICROSCOPE</title><date>2023-11-16</date><risdate>2023</risdate><abstract>Methods and systems for calibrating a transmission electron microscope are disclosed. A fiducial mark on the sample holder is used to identify known reference points so that a current collection area and a through-hole on the sample holder can be located. A plurality of beam current and beam area measurements are taken, and calibration tables are extrapolated from the measurements for a full range of microscope parameters. The calibration tables are then used to determine electron dose of a sample during an experiment at a given configuration.
La divulgation concerne des procédés et des systèmes d'étalonnage d'un microscope électronique à transmission. Une marque de repère sur le porte-échantillon est utilisée pour identifier des points de référence connus de telle sorte qu'une zone de collecte de courant et un trou traversant sur le porte-échantillon peuvent être situés. Une pluralité de mesures de courant de faisceau et de zone de faisceau sont prises, et des tables d'étalonnage sont extrapolées à partir des mesures pour une plage complète de paramètres de microscope. Les tables d'étalonnage sont ensuite utilisées pour déterminer une dose d'électrons d'un échantillon pendant une expérience à une configuration donnée.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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