METHOD FOR PROCESSING AN X-RAY OR GAMMA RAY SPECTRUM

The invention is based on a method for processing an X-ray and gamma ray spectrum acquired by a spectrometry device (1). The processing method takes into account a spectral dispersion matrix (D). The spectral dispersion matrix models the energy response of the device. The method comprises establishing a change-of-basis matrix (U, U', D') using the spectral dispersion matrix. The change-of-basis matrix is then used to establish a direct model linking measured quantities, forming an input vector (m), and quantities to be estimated, forming an output vector. The invention of the direct model makes it possible to estimate the output vector (a, s, h, ε). The invention can be applied to quantifying the activity of an object to be monitored or performing an energy or efficiency calibration on the spectrometry device. L'invention est basée sur un procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X et gamma, acquis par un dispositif de spectrométrie (1). Le procédé de traitement prend en compte une matrice de dispersion spectrale (D). La matrice de dispersion spectrale modélise la réponse en énergie du dispositif. Le procédé comporte l'établissement d'une matrice de passage (U, U', D'), en utilisant la matrice de dispersion spectrale. La matrice de passage est ensuite utilisée pour établir un modèle direct, reliant des grandeurs mesurées, formant un vecteur d'entrée (m), et des grandeurs à estimer, formant un vecteur de sortie. L'invention du modèle direct permet une estimation du vecteur de sortie (a, s, h, ε). L'invention peut s'appliquer à une quantification de l'activité d'un objet à contrôler ou pour effectuer un étalonnage en énergie, ou en efficacité, du dispositif de spectrométrie.