PALLET INSPECTION SYSTEM AND ASSOCIATED METHODS

A pallet inspection system includes a conveyor to move a pallet that is to be inspected. The pallet includes a top deck and a bottom deck separated by spaced apart support blocks positioned therebetween, with nails being used to secure the top and bottom decks to the support blocks. Cameras are positioned to generate images of the pallet as the pallet is moved on the conveyor. A processor is coupled to the cameras and receives the images for processing. The processing includes executing a first algorithm on the images to tag the images having support blocks visible therein, and executing a second algorithm on the tagged images to detect nails having exposed tips. Un système d'inspection de palette comprend un transporteur destiné à déplacer une palette à inspecter. La palette comprend un plancher supérieur et un plancher inférieur séparés par des blocs de support espacés positionnés entre eux, les clous étant utilisés pour fixer les planchers supérieur et inférieur aux blocs de support. Des caméras sont positionnées pour générer des images de la palette lorsque la palette est déplacée sur le transporteur. Un processeur est couplé aux caméras et reçoit les images pour le traitement. Le traitement comprend l'exécution d'un premier algorithme sur les images en vue de marquer les images ayant des blocs de support visibles à l'intérieur de celles-ci, et l'exécution d'un second algorithme sur les images marquées en vue de détecter les clous ayant des pointes exposées.