METHOD AND DEVICE FOR MEASURING DEPTH INFORMATION RELATING TO A SCENE ON THE BASIS OF STRUCTURED LIGHT GENERATED BY MEANS OF AT LEAST ONE PARALLEL RADIATION SOURCE

Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Tiefeninformationen einer Szene anhand von mittels zumindest einer Parallelstrahlungsquelle generiertem strukturierten Licht, wobei das Verfahren aufweist: Erzeugen je eines elektromagnetischen Strahls mittels zumindest einer Parallelstrahlungsquelle; Zeitabhängiges sequenzielles Ausrichten oder optisches Abbilden des Strahls bzw. zumindest eines der Strahlen auf verschiedene, insbesondere punkt- oder liniensegmentförmige, Orte einer dreidimensionalen Szene, um die Szene mittels des zumindest einen abgebildeten Strahls in Form einer sich durch die zeitabhängige Ausrichtung oder Abbildung des Strahls ergebenden Trajektorie des Strahls definierten Bestrahlungsmusters zu bestrahlen; Zumindest abschnittsweises Detektieren eines durch zumindest anteilige Reflexion des Bestrahlungsmusters an einer oder mehreren Oberflächen zumindest eines in der Szene vorhandenen Objekts (d.h. physischen Objekts) erzeugten Abbilds des Bestrahlungsmusters und Erzeugen von Bildinformationen, die das detektierte Abbild des Bestrahlungsmusters repräsentieren; und Auswerten der Bildinformationen, um daraus Tiefeninformationen bezüglich der Szene zu berechnen. Method and device for measuring depth information relating to a scene on the basis of structured light generated by means of at least one parallel radiation source, the method including: generating a respective electromagnetic beam by means of at least one parallel radiation source; time-dependently sequentially aligning or optically imaging the beam or at least one of the beams on different locations, in particular punctiform or line segment-shaped locations, in a three-dimensional scene in order to irradiate the scene by means of the at least one imaged beam in the form of a trajectory of the beam-defined irradiation pattern, the trajectory arising by way of the time-dependent alignment or imaging of the beam; at least sectionally detecting an image representation of the irradiation pattern generated by an at least proportional reflection of the irradiation pattern at one or more surfaces of at least one object present in the scene (i.e., a physical object), and generating image information representing the detected image representation of the irradiation pattern; and evaluating the image information in order to calculate depth information in relation to the scene therefrom. L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure d'informations de profondeur d'une scène au moyen d'u