APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SURFACES WITH WAVELENGTH ANALYSIS

Vorrichtung (1) zum Untersuchen von Oberflächeneigenschaften von lackierten Oberflächen, insbesondere von Kraftfahrzeugen mit einer ersten Beleuchtungseinrichtung (2), welche eine zu untersuchende Oberfläche (10) unter einem ersten Beleuchtungswinkel (a1) beleuchtet, mit einer zweiten Beleuchtungsei...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: SPERLING, Uwe
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Vorrichtung (1) zum Untersuchen von Oberflächeneigenschaften von lackierten Oberflächen, insbesondere von Kraftfahrzeugen mit einer ersten Beleuchtungseinrichtung (2), welche eine zu untersuchende Oberfläche (10) unter einem ersten Beleuchtungswinkel (a1) beleuchtet, mit einer zweiten Beleuchtungseinrichtung (12) welche die Oberfläche (10) unter einem zweiten Beleuchtungswinkel (a2) beleuchtet, mit einer ersten Sensoreinrichtung (4), welche von der von der zweiten Beleuchtungseinrichtung (2) beleuchteten Oberfläche reflektierte und/oder gestreute Strahlung unter einem ersten Aufnahmewinkel aufnimmt und wenigstens einen Wert ausgibt, der für die von der Oberfläche auf die Sensoreinrichtung (4) gelangende Strahlung charakteristisch ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (1) eine Strahlungsanalyseeinrichtung (4) aufweist, welche von der Oberfläche gestreute und/oder reflektierte Strahlung hinsichtlich ihrer Wellenlänge analysiert. An apparatus (1) for examining surface properties of painted surfaces, in particular of motor vehicles, comprising a first illumination device (2), which illuminates a surface (10) to be examined at a first illumination angle (a1), comprising a second illumination device (12), which illuminates the surface (10) at a second illumination angle (a2), comprising a first sensor device (4), which records radiation reflected and/or scattered by the surface illuminated by the second illumination device (2) at a first recording angle and outputs at least one value which is characteristic of the radiation that reaches the sensor device (4) from the surface, characterized in that the apparatus (1) comprises a radiation analysis device (4), which analyses radiation scattered and/or reflected by the surface with regard to its wavelength. L'invention concerne un appareil (1) pour l'examen de propriétés de surfaces peintes, en particulier de véhicules automobiles, comprenant un premier dispositif d'éclairage (2) qui éclaire une surface (10) à examiner sous un premier angle d'éclairage (a1), comprenant un second dispositif d'éclairage (12) qui éclaire la surface (10) sous un second angle d'éclairage (a2), comprenant un premier dispositif de détection (4) qui enregistre le rayonnement réfléchi et/ou diffusé par la surface éclairée par le second dispositif d'éclairage (2) sous un premier angle d'enregistrement et délivre au moins une valeur caractéristique du rayonnement parvenant au dispositif de détection (4) en provenance de la surface,