LOGIC BUILT-IN SELF-TEST OF AN ELECTRONIC CIRCUIT

A tool for performing a logic built-in self-test of an electronic circuit operating on a clock cycle basis. The tool stores a configurable test signature in a random-access memory together with a pattern counter for a test pattern, wherein a number of the at least one additional signature register corresponds to a number of entries in the random access memory. The tool determines an error based, at least in part, on a compare operation for a given test pattern, wherein the compare operation determines whether the test signature in the first signature register before a capture cycle of a next test pattern differs from the corresponding configurable test signature. The tool stores the error in a corresponding additional signature register. Outil permettant de réaliser un auto-test intégré logique d'un circuit électronique fonctionnant en fonction d'un cycle d'horloge. L'outil stocke une signature de test configurable dans une mémoire à accès aléatoire conjointement avec un compteur de motif pour un motif de test, un nombre d'au moins un registre de signature supplémentaire correspondant à un nombre d'entrées dans la mémoire à accès aléatoire. L'outil détermine une erreur en fonction, au moins en partie, d'une opération de comparaison pour un motif de test donné, l'opération de comparaison déterminant si la signature de test dans le premier registre de signature avant un cycle de capture d'un motif de test suivant diffère de la signature de test configurable correspondante. L'outil stocke l'erreur dans un registre de signature supplémentaire correspondant.