APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING TURBIDITY CAUSED BY FINE PARTICLES

The present invention relates to an apparatus and method for measuring turbidity caused by fine particles. The apparatus may be an apparatus comprising: a laser module for emitting a laser beam in a predetermined wavelength band; a coupler for branching and outputting the laser beam emitted from the...

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1. Verfasser: CHOI, Young Bok
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:The present invention relates to an apparatus and method for measuring turbidity caused by fine particles. The apparatus may be an apparatus comprising: a laser module for emitting a laser beam in a predetermined wavelength band; a coupler for branching and outputting the laser beam emitted from the laser module into a first laser path and a second laser path; a probe for outputting the laser beam output through the first laser path toward a container containing a solution; a light-receiving element for detecting light reflected or scattered by fine particles in the solution through the laser beam output from the probe and incident into the container; and a control unit for calculating a turbidity value by using the intensity of light detected by the light-receiving element and transmitted to the second laser path by the coupler, wherein the fine particles are cerium or a compound containing cerium. La présente invention concerne un appareil et un procédé pour mesurer la turbidité provoquée par des particules fines. L'appareil peut être un appareil comprenant : un module laser pour émettre un faisceau laser dans une bande de longueur d'onde prédéterminée; un coupleur pour ramifier et délivrer le faisceau laser émis par le module laser en un premier trajet laser et un second trajet laser; une sonde pour délivrer le faisceau laser émis via le premier trajet laser vers un récipient contenant une solution; un élément de réception de lumière pour détecter la lumière réfléchie ou diffusée par des particules fines dans la solution via le faisceau laser émis par la sonde et incidente dans le récipient; et une unité de commande pour calculer une valeur de turbidité en utilisant l'intensité de la lumière détectée par l'élément de réception de lumière et transmise au second trajet de laser par le coupleur, les particules fines étant du cérium ou un composé contenant du cérium. 본 발명은 미세 입자의 탁도 측정 장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 기 설정된 파장 대역의 레이저빔을 조사하는 레이저 모듈; 상기 레이저 모듈에서 조사된 레이저빔을 제1 레이저 경로와 제2 레이저 경로로 분기하여 출력하는 커플러; 상기 용액을 포함한 용기 쪽으로 상기 제1 레이저 경로로 출력되는 레이저빔을 출력하는 프로브; 상기 프로브에서 출력되는 레이저빔이 상기 용기 내부로 입사되어, 상기 용액 내 미세 입자에 의해 반사 또는 산란되는 광을 검출하는 수광소자; 및 상기 커플러에 의해 상기 제2 레이저 경로로 전달되는 상기 수광 소자에서 검출된 광의 세기를 이용하여 탁도 값을 산출하는 제어부를 포함하는 장치일 수 있고, 이때 미세 입자는 세륨 또는 세륨을 포함한 화합물인 것이다.