METHOD FOR DETERMINING WEAR ON AN ELECTRONIC UNIT, AND TEST DEVICE

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung von Verschleiß einer elektronischen Baueinheit (2), insbesondere Leistungselektronik, die zumindest ein elektronisches Bauelement (12), insbesondere Halbleiterbauelement, Kondensator oder dergleichen aufweist, wobei die Baueinheit (2) einem Prüfvorgang unterzogen wird, in welchem die Baueinheit (2) mit zumindest zwei vorgebbaren elektrischen Lastzyklen beaufschlagt wird, in welchen die Baueinheit (2) jeweils zur Simulation von zumindest einer ausgewählten Betriebsart für eine vorgegebene Zeitspanne betrieben wird. Es ist vorgesehen, dass während des Prüfvorgangs von der Baueinheit (2) durch eine elektrische Belastung, die aus der Beaufschlagung der Baueinheit (2) mit den zumindest zwei Lastzyklen resultiert, erzeugte elektromagnetische Wellen (6) für zumindest zwei der Lastzyklen erfasst werden, und dass die erfassten elektromagnetischen Wellen (6) der zumindest zwei Lastzyklen zur Erfassung von Verschleiß der Baueinheit (2) miteinander verglichen werden. The invention relates to a method for determining wear on an electronic unit (2), in particular power electronics unit, which has at least one electronic component (12), in particular semiconductor component, capacitor or the like, wherein the unit (2) is subjected to a test procedure in which the unit (2) has applied to it at least two predefinable electrical load cycles in which the unit (2) is operated for a predefined time interval in each case in order to simulate at least one selected operating mode. Provision is made for the unit (2) to detect, during the test procedure, electromagnetic waves (6) for at least two of the load cycles, said electromagnetic waves being generated by an electrical loading that results from the at least two load cycles being applied to the unit (2), and for the detected electromagnetic waves (6) of the at least two load cycles to be compared with one another in order to detect wear on the unit (2). L'invention concerne un procédé permettant de déterminer l'usure d'une unité électronique (2), en particulier d'une électronique de puissance, qui comprend au moins un composant électronique (12), en particulier un composant à semi-conducteur, un condensateur ou analogue, ladite unité (2) étant soumise à un processus de contrôle lors duquel l'unité (2) fait l'objet d'au moins deux cycles de charge électriques pouvant être prédéfinis, au cours desquels l'unité (2) est amenée à fonctionner pendant un laps de temps prédéfini à de