INSPECTION DEVICE, BLISTER PACKAGING MACHINE, AND METHOD FOR MANUFACTURING BLISTER PACK

Provided are: an inspection device that can facilitate improvement in inspection accuracy, simplification of a device, and the like; a blister packaging machine; and a method for manufacturing a blister pack. An inspection device 21 is provided with: an illumination device 50 that irradiates, with light, a container film 3 being conveyed; and a camera 51 that captures an image of light having transmitted through the film. The camera 51 has: a lens 51b through which field curvature is corrected; an imaging element 51a that captures an image through this lens; and a mirror 51d that can reflect entry light toward the lens 51b. Further, a first imaging process is executed at a timing when a flange portion 3b of the container film 3 which comes into focus without using the mirror 51d is located in a first focus range. Meanwhile, a second imaging process is executed at a timing when the bottom of a pocket part 2 which comes into focus by using the mirror 51d is located in a second focus range GW2. Then, inspection is performed on the flange portion 3b on the basis of an inspection image acquired by the first imaging process, and inspection is performed on the pocket part 2 on the basis of an inspection image acquired by the second imaging process. L'invention concerne : un dispositif d'inspection qui peut faciliter l'amélioration de la précision d'inspection, la simplification d'un dispositif, et similaire ; une machine d'emballage sous forme de plaquette alvéolaire ; et un procédé de fabrication d'une plaquette alvéolaire. Un dispositif d'inspection 21 comprend : un dispositif d'illumination 50 qui irradie, à l'aide d'une lumière, un film de contenant 3 transporté ; et une caméra 51 qui capture une image d'une lumière ayant été émise à travers le film. La caméra 51 comprend : un objectif 51b à travers lequel une courbure de champ est corrigée ; un élément de formation d'images 51a qui capture une image à travers cet objectif ; et un miroir 51d qui peut réfléchir une lumière d'entrée vers l'objectif 51b. En outre, un premier procédé de formation d'images est exécuté à un instant où une partie embase 3b du film de contenant 3 qui entre dans le champ sans que le miroir 51d soit utilisé se situe dans une première profondeur de champ. Dans le même temps, un second procédé de formation d'images est exécuté à un instant où le fond d'une partie poche 2 qui entre dans le champ à l'aide du miroir 51d se situe dans une seconde profondeur de champ GW2. Ensuite, une inspect