SYSTEMS, METHODS, AND APPARATUSES FOR REAL-TIME CHARACTERIZATION OF ROCK CUTTINGS DURING ROCK DRILL CUTTING
A system, method, and apparatus for real-time characterization of drilled particles (50) during a drilling operation can be comprised of a light illumination source (260) to output short-wave-infrared (SWIR) light toward the drilled particles (50) as the drilled particles (50) exit a drill hole (100...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A system, method, and apparatus for real-time characterization of drilled particles (50) during a drilling operation can be comprised of a light illumination source (260) to output short-wave-infrared (SWIR) light toward the drilled particles (50) as the drilled particles (50) exit a drill hole (100) being drilled by a drilling machine (200); a sensor (270) to sense reflected short-wave-infrared (SWIR) light reflected from the drilled particles (50) exiting the drill hole (100); and processing circuitry (250, 252, 255) operatively coupled to at least the sensor (270). The processing circuitry (250, 252, 255) can be configured to determine a spectrum of the reflected short-wave-infrared light sensed by the sensor (270), and determine particle characterization for a portion of the drilled particles (50) by performing hyperspectral analysis on the determined spectrum and based on predetermined candidate particle characterizations.
La présente invention concerne un système, un procédé et un appareil de caractérisation en temps réel de particules forées (50) pendant une opération de forage. L'appareil peut être constitué : d'une source d'éclairage (260) conçue pour émettre une lumière infrarouge à ondes courtes (SWIR) vers les particules forées (50) à mesure que les particules forées (50) sortent d'un trou de forage (100) foré par une foreuse (200) ; d'un capteur (270) destiné à détecter la lumière infrarouge à ondes courtes (SWIR) réfléchie par les particules forées (50) sortant du trou de forage (100) ; et de circuits de traitement (250, 252, 255) fonctionnellement couplés au moins au capteur (270). Les circuits de traitement (250, 252, 255) peuvent être configurés pour déterminer un spectre de la lumière infrarouge à ondes courtes réfléchie détectée par le capteur (270) et pour déterminer une caractérisation des particules pour une partie des particules forées (50) en effectuant une analyse hyperspectrale sur le spectre déterminé et sur la base de caractérisations de particules candidates prédéterminées. |
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