DEVICE PERFORMANCE MONITORING SYSTEM
The present invention is related to a system and corresponding method and computer implemented software for improving performance of at least one electronic devices, said devices including at least one sensors and a model defining the device reaction in response to data produced by at least one of s...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | The present invention is related to a system and corresponding method and computer implemented software for improving performance of at least one electronic devices, said devices including at least one sensors and a model defining the device reaction in response to data produced by at least one of said sensors. The system includes a model generator configured to analyze the data produced from said sensors and the reactions to the data, and register errors in the reactions as compared with the intended reactions, wherein the model generator is configured to adjust the device model by minimizing errors between the actual output of the model and the desired output of the model, based on a set of samples recorded on said at least one electronic devices, wherein the recorded samples include information related to which of a number of predefined states the device is in at the occurrence of the error, the time of the occurred error, and the number of errors at the specified time and/or state.
La présente invention concerne un système et un procédé et un logiciel mis en œuvre par ordinateur correspondants permettant d'améliorer les performances d'au moins un dispositif électronique, lesdits dispositifs comprenant au moins un capteur et un modèle définissant la réaction du dispositif en réponse à des données produites par au moins un desdits capteurs. Le système comprend un générateur de modèle conçu pour analyser les données produites par lesdits capteurs et les réactions aux données, et des erreurs de registre dans les réactions comparées aux réactions prévues, le générateur de modèle étant conçu pour ajuster le modèle de dispositif en minimisant les erreurs entre la sortie réelle du modèle et la sortie souhaitée du modèle, sur la base d'un ensemble d'échantillons enregistrés sur ledit au moins un dispositif électronique, les échantillons enregistrés comprenant des informations relatives à celles d'un certain nombre d'états prédéfinis, le dispositif se trouvant à l'apparition de l'erreur, le temps de l'erreur survenue, et le nombre d'erreurs à l'instant et/ou à l'état spécifiés. |
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