METHOD, SYSTEM AND APPARATUS FOR DETECTING DEVICE MALFUNCTIONS

An example method of detecting device malfunctions at a subject device includes: obtaining a device event indicator representing an event detected at a device sensor of the subject device; obtaining an external event indicator representing an external event detected by an environmental sensor, the external event occurring external to the subject device; and identifying a device malfunction at the subject device based on the device event indicator and the external event indicator. Un exemple de procédé pour détecter un dysfonctionnement de dispositif au niveau d'un dispositif sujet consiste à : obtenir un indicateur d'événement de dispositif représentant un événement détecté au niveau d'un capteur de dispositif du dispositif sujet ; obtenir un indicateur d'événement externe représentant un événement externe détecté par un capteur d'environnement, l'événement externe se produisant à l'extérieur du dispositif sujet ; et identifier un dysfonctionnement de dispositif au niveau du dispositif sujet sur la base de l'indicateur d'événement de dispositif et de l'indicateur d'événement externe.