IMPEDANCE MEASUREMENT FOR A HAPTIC LOAD

In some implementations, a measurement circuit may drive, using a first transistor, a first node of a haptic load. The measurement circuit may trigger a first comparator when a voltage driving the haptic load satisfies a first condition. The first comparator may have a first node connected, in parallel, to a drain of a second transistor and may have a second node connected to the first node of the haptic load. Additionally, the second transistor may have a gate connected to a gate of the first transistor and may have the drain connected to a first reference current. Selon certains modes de réalisation, un circuit de mesure peut exciter, à l'aide d'un premier transistor, un premier nœud d'une charge haptique. Le circuit de mesure peut déclencher un premier comparateur lorsqu'une tension d'excitation de la charge haptique vérifie une première condition. Le premier comparateur peut comporter un premier nœud, branché en parallèle à un drain d'un second transistor ; et un second nœud, relié au premier nœud de la charge haptique. De plus, le second transistor peut comporter une grille reliée à une grille du premier transistor, tandis que son drain peut être relié à un premier courant de référence (Iref).