OPTICAL DIFFRACTION TOMOGRAPHY MICROSCOPE

34 P2418PC00 Abstract Optical diffraction tomography microscope (2) comprising an illumination system (4) configured for transmitting a sample beam through a sample observation zone, a detection5 system (8) comprising at least one image sensor (54), and a wave collection system (6) comprising a lens...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	EQUIS, Sebastien, COTTE, Yann, COTTE, Pierre-Alain
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS OPTICS PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	34 P2418PC00 Abstract Optical diffraction tomography microscope (2) comprising an illumination system (4) configured for transmitting a sample beam through a sample observation zone, a detection5 system (8) comprising at least one image sensor (54), and a wave collection system (6) comprising a lens (16) downstream of the sample observation zone configured for directing the sample beam towards the at least one image sensor. [Fig. 12a]10 Microscope à tomographie de diffraction optique (2) comprenant un système d'éclairage (4) configuré pour transmettre un faisceau d'échantillon à travers une zone d'observation d'échantillon, un système de détection (8) comprenant au moins un capteur d'image (54), et un système de collecte d'ondes (6) comprenant une lentille (16) en aval de la zone d'observation d'échantillon configurée pour diriger le faisceau d'échantillon vers le ou les capteurs d'image.