METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING A GEMSTONE
Gemstone inspection apparatus (20) for inspecting a faceted gemstone (12). The gemstone is at least partially transparent to light having a wavelength within a transmission region. The apparatus comprises a support (30) for supporting a faceted gemstone; a light source (40) arrangement configured to...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | Gemstone inspection apparatus (20) for inspecting a faceted gemstone (12). The gemstone is at least partially transparent to light having a wavelength within a transmission region. The apparatus comprises a support (30) for supporting a faceted gemstone; a light source (40) arrangement configured to direct light at a surface of a gemstone supported by the support, the light having a wavelength that is outside the transmission region; a detector (60) configured to detect light reflected by the surface of the gemstone; and a processor (90) configured to process the light detected by the detector to produce information suitable for use in determining a quality characteristic of the gemstone.
L'invention concerne un appareil (20) d'inspection de pierres précieuses destiné à inspecter une pierre précieuse (12) à facettes. La pierre précieuse est au moins partiellement transparente à une lumière présentant une longueur d'onde située à l'intérieur d'une région de transmission. L'appareil comporte un support (30) servant à porter une pierre précieuse à facettes; un agencement (40) de source lumineuse configuré pour diriger une lumière vers une surface d'une pierre précieuse portée par le support, la lumière présentant une longueur d'onde qui se situe à l'extérieur de la région de transmission; un détecteur (60) configuré pour détecter une lumière réfléchie par la surface de la pierre précieuse; et un processeur (90) configuré pour traiter la lumière détectée par le détecteur pour produire des informations aptes à être utilisées dans la détermination d'une caractéristique de qualité de la pierre précieuse. |
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