SUBSTRATE PROCESSING METHOD AND SUBSTRATE PROCESSING DEVICE
This substrate processing method comprises: a catalyst component supply step for supplying, to a substrate, a catalyst component that is to be adsorbed to the substrate; a film-forming component supply step for supplying, to the substrate, a film-forming component that forms an insulation film on th...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; jpn |
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Zusammenfassung: | This substrate processing method comprises: a catalyst component supply step for supplying, to a substrate, a catalyst component that is to be adsorbed to the substrate; a film-forming component supply step for supplying, to the substrate, a film-forming component that forms an insulation film on the substrate in the presence of the catalyst component; and an inhibitory component supply step for supplying, to the front surface or back surface of the substrate, an inhibitory component that is to be adsorbed to the substrate and that inhibits adsorption of the catalyst component to the substrate. The inhibitory component supply step is carried out before the catalyst component supply step.
Ce procédé de traitement de substrat comprend : une étape d'alimentation en composant catalyseur pour fournir, à un substrat, un composant catalyseur qui doit être adsorbé sur le substrat ; une étape d'alimentation en composant de formation de film pour fournir, au substrat, un composant de formation de film qui forme un film d'isolation sur le substrat en présence du composant de catalyseur ; et une étape d'alimentation en composant inhibiteur pour fournir, à la surface avant ou à la surface arrière du substrat, un composant inhibiteur qui doit être adsorbé sur le substrat et qui inhibe l'adsorption du composant catalyseur sur le substrat. L'étape d'alimentation en composant inhibiteur est réalisée avant l'étape d'alimentation en composant catalyseur.
基板に吸着する触媒成分を前記基板に供給する触媒成分供給工程と、前記触媒成分の存在下で前記基板に絶縁膜を形成する成膜成分を前記基板に供給する成膜成分供給工程と、前記基板に吸着し且つ前記触媒成分の前記基板への吸着を阻害する阻害成分を前記基板の表面または裏面に供給する阻害成分供給工程と、を有し、前記阻害成分供給工程は、前記触媒成分供給工程の前に行う、基板処理方法。 |
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