MULTI-USE BEAM SAMPLER IN LASER BEAM DELIVERY PATH OF OPHTHALMIC LASER SYSTEM

In a laser beam delivery system for an ophthalmic laser system, a single multi-use beam sampler is employed to form three sampled laser beams, including two for redundant laser energy monitoring and one for laser focal point depth measurement. The beam sampler is a transparent plate with preferably parallel front and back surfaces. The front surface reflects a fraction of the incoming beam to form the first sampled beam toward an energy monitoring detector. The back surface reflects another fraction of the beam to form a second sampled beam exiting backwardly from the front surface toward another energy monitoring detector. An objective lens focuses the transmitted beam onto a target, and collects back reflected or scattered light from the target to form a return beam. The back surface of the beam sampler reflects a fraction of the return beam to form the third sampled beam toward a third detector. Dans un système de distribution de faisceau laser pour un système laser ophtalmique, un seul échantillonneur de faisceau multi-usage est employé pour former trois faisceaux laser échantillonnés, comprenant deux faisceaux pour une surveillance d'énergie laser redondante et un faisceau pour une mesure de profondeur de point focal laser. L'échantillonneur de faisceau est une plaque transparente présentant des surfaces avant et arrière de préférence parallèles. La surface avant réfléchit une fraction du faisceau entrant pour former le premier faisceau échantillonné vers un détecteur de surveillance d'énergie. La surface arrière réfléchit une autre fraction du faisceau pour former un deuxième faisceau échantillonné sortant vers l'arrière depuis la surface avant vers un autre détecteur de surveillance d'énergie. Une lentille d'objectif focalise le faisceau transmis sur une cible et collecte en retour la lumière réfléchie ou diffusée provenant de la cible pour former un faisceau de retour. La surface arrière de l'échantillonneur de faisceau réfléchit une fraction du faisceau de retour pour former le troisième faisceau échantillonné vers un troisième détecteur.