IMAGING DEVICE AND ATTACHED MATTER DETECTION METHOD

The present invention inexpensively provides a mechanism capable of detecting, with excellent accuracy, any matter attached to a lens surface of an imaging device. This imaging device 1 performs: a photographing control process for narrowing the aperture of a lens 11 to the utmost limit by a lens control unit 14 and exercising control, while the exposure time of an imaging element 12 is extended to the extreme by an exposure control unit 15, so that photographing is performed while changing the direction of photographing by a camera platform 19; and an attached matter detection process for detecting any matter attached to the lens surface on the basis of edge components included in a photographed image. La présente invention fournit de manière peu coûteuse un mécanisme apte à détecter, avec une excellente précision, toute matière attachée à une surface de lentille d'un dispositif d'imagerie. Ce dispositif d'imagerie (1) réalise : un processus de commande de photographie pour réduire l'ouverture d'une lentille (11) jusqu'à la limite maximale par une unité de commande de lentille (14) et en exerçant une commande, tandis que le temps d'exposition d'un élément d'imagerie (12) est étendu à l'extrême par une unité de commande d'exposition (15), de telle sorte que la photographie est effectuée tout en changeant la direction de photographie par une plateforme d'appareil de prise de vues (19) ; et un processus de détection de matière attachée pour détecter toute matière attachée à la surface de lentille sur la base de composantes de bord comprises dans une image photographiée. 本発明は、撮像装置のレンズ面の付着物を精度よく検出できる仕組みを低コストで提供する。撮像装置１は、レンズ１１の絞りをレンズ制御部１４により極限まで絞り、且つ、撮像素子１２の露光時間を露光制御部１５により極端に長くした状態で、雲台１９により撮影方向を変動させながら撮影を行うよう制御する撮影制御処理と、撮影された画像に含まれるエッジ成分に基づいて、レンズ面に対する付着物を検出する付着物検出処理とを行う。