MONITORING OF X-RAY TUBE

The invention relates to an optical monitoring system (200) for monitoring an X-ray tube (100), the optical monitoring system (200) comprising: at least one optical sensor (201) configured to detect first signals of a first optical parameter and second signals of a second optical parameter thereby generating measurement data, wherein the first and second optical parameters are selected from the group comprising plasma glow, discharges, micro-discharges, arcs, x-ray fluorescence, line emissions, wherein the first and second optical parameters are different from each other, the optical monitoring system (200) further comprising a computing unit (202) configured to transmit, to a remote system(300) external of optical monitoring system (200) and the X-ray tube (100), said generated measurement data and/or a result of an analysis of measurement data carried out by the computing unit (202). The invention further relates to a unit comprising an X-ray tube (100) and such an optical monitoring system (200), as well as to a method (400) for monitoring an X-ray tube (100). L'invention concerne un système de surveillance optique (200) servant à surveiller un tube à rayons X (100), le système de surveillance optique (200) comprenant : au moins un capteur optique (201) conçu pour détecter des premiers signaux d'un premier paramètre optique et des seconds signaux d'un second paramètre optique, générant ainsi des données de mesure, les premier et second paramètres optiques étant choisis dans le groupe constitué par un rayonnement de plasma, des décharges, des microdécharges, des arcs, une fluorescence X, des émissions de raies, les premier et second paramètres optiques étant différents l'un de l'autre, le système de surveillance optique (200) comprenant en outre une unité informatique (202) configurée pour transmettre, vers un système à distance (300) externe au système de surveillance optique (200) et au tube à rayons X (100), lesdites données de mesure générées et/ou un résultat d'une analyse de données de mesure effectuées par l'unité informatique (202). L'invention concerne en outre une unité comprenant un tube à rayons X (100) et un tel système de surveillance optique (200), ainsi qu'un procédé (400) de surveillance d'un tube à rayons X (100).