LINE DEFECT INSPECTION DEVICE
The present invention relates to a line defect inspection device, and according to a line defect inspection device related to one embodiment of the present invention, a defect image can be stored for a long time at a low volume, and a line stain defect can be determined by comparing an entire fabric...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; kor |
Schlagworte: | |
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Zusammenfassung: | The present invention relates to a line defect inspection device, and according to a line defect inspection device related to one embodiment of the present invention, a defect image can be stored for a long time at a low volume, and a line stain defect can be determined by comparing an entire fabric image. In addition, according to the line defect inspection device related one embodiment of the present invention, images stored in individual cameras are integrated so as to be stored in an image map server as one image, and thus a line stain defect in fabric can be managed.
La présente invention se rapporte à un dispositif d'inspection de défaut de ligne, et selon un dispositif d'inspection de défaut de ligne associé à un mode de réalisation de la présente invention, une image de défaut peut être stockée pendant une longue période à un faible volume, et un défaut de coloration de ligne peut être déterminé par comparaison d'une image de tissu entière. De plus, selon le dispositif d'inspection de défaut de ligne associé à un mode de réalisation de la présente invention, des images stockées dans des caméras individuelles sont intégrées de façon à être stockées dans un serveur de mappage d'images en tant qu'image unique, et ainsi un défaut de coloration de ligne dans un tissu peut être traité.
본 발명은 라인성결함 검사장치에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예와 관련된 라인성결함 검사장치에 따르면, 결함 이미지에 대하여 저용량으로 장기 보관이 가능하고, 라인 얼룩성 결함을 원단 전체 이미지를 비교하여 판단할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예와 관련된 라인성결함 검사장치에 따르면, 개별 카메라로 저장된 이미지를 통합하여 1개의 이미지로 이미지 맵 서버에 저장하고, 이를 통해 원단의 라인얼룩 결함을 관리할 수 있다. |
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