SELECTIVE SILICON ETCH FOR GATE ALL AROUND TRANSISTORS

Horizontal gate-all-around devices and methods of manufacturing same are described. The hGAA devices comprise a trimmed semiconductor material between source regions and drain regions of the device. The method includes selectively isotropically etching semiconductor material layers between source re...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: NATARAJAN, Sanjay, KIM, Myungsun, COLOMBEAU, Benjamin, STOLFI, Michael
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Horizontal gate-all-around devices and methods of manufacturing same are described. The hGAA devices comprise a trimmed semiconductor material between source regions and drain regions of the device. The method includes selectively isotropically etching semiconductor material layers between source regions and drain regions of an electronic device. L'invention concerne des dispositifs gate-all-around horizontaux et des procédés de fabrication de ceux-ci. Les dispositifs hGAA comprennent un matériau semi-conducteur coupé entre des régions de source et des régions de drain du dispositif. Le procédé comprend la gravure isotrope sélective de couches de matériau semi-conducteur entre des régions de source et des régions de drain d'un dispositif électronique.