CONTROL SCHEME CALIBRATION FOR MEDICAL INSTRUMENTS
Methods, systems, and devices for calibrating a medical instrument are discussed herein. For example, a first instrument can be configured to access an anatomical site via a first access path and a second instrument can be configured to access the anatomical site via a second access path. The second...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | Methods, systems, and devices for calibrating a medical instrument are discussed herein. For example, a first instrument can be configured to access an anatomical site via a first access path and a second instrument can be configured to access the anatomical site via a second access path. The second instrument can include an imaging component configured to provide image data representative of the anatomical site and the first instrument. A difference can be identified between a first coordinate frame associated with the first instrument and a second coordinate frame associated with the second instrument. A control frame of reference associated with the first instrument can be updated based at least in part on the difference.
L'invention concerne des procédés, des systèmes et des dispositifs d'étalonnage d'un instrument médical. Par exemple, un premier instrument peut être conçu pour accéder à un site anatomique par l'intermédiaire d'un premier trajet d'accès et un second instrument peut être conçu pour accéder au site anatomique par l'intermédiaire d'un second trajet d'accès. Le second instrument peut comprendre un composant d'imagerie conçu pour fournir des données d'image représentatives du site anatomique et du premier instrument. Une différence peut être identifiée entre un premier cadre de coordonnées associé au premier instrument et un second cadre de coordonnées associé au second instrument. Un cadre de commande de référence associé au premier instrument peut être mis à jour sur la base, au moins en partie, de la différence. |
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