FLUORINE-FREE TUNGSTEN ALD FOR DIELECTRIC SELECTIVITY IMPROVEMENT

Methods of forming metallic tungsten films selectively on a conductive surface relative to a dielectric surface are described. A substrate is exposed to a first process condition to deposit a tungsten-containing film that is substrate free of tungsten metal. The tungsten-containing film is then conv...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SRIRAM, Mandyam, CHEN, Shih Chung, SHEN, Chenfei, REN, He, YOSHIDA, Naomi, LIN, Chi-Chou, CHEN, Wen Ting, FISHER, Ilanit, WU, Kedi, GANDIKOTA, Srinivas
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Methods of forming metallic tungsten films selectively on a conductive surface relative to a dielectric surface are described. A substrate is exposed to a first process condition to deposit a tungsten-containing film that is substrate free of tungsten metal. The tungsten-containing film is then converted to a metallic tungsten film by exposure to a second process condition. L'invention concerne des procédés destinés à former sélectivement des pellicules de tungstène métallique sur une surface conductrice relativement à une surface diélectrique. Un substrat est exposé à une première condition de traitement pour déposer une pellicule contenant du tungstène qui est un substrat dépourvu de tungstène métallique. La pellicule contenant du tungstène est alors convertie en une pellicule de tungstène métallique par exposition à une deuxième condition de traitement.