METHOD OF DETERMINATION OF METROLOGICAL CHARACTERISTICS OF INSTRUMENT CHANNEL (VARIANTS)

In first variant, the method of determination of instruments channels (IC) metrological characteristics (MC) comprising input of reference value Xref to the measuring instrument (MI), the suspension of output of measuring signal, value of which depends functionally on the measured parameter, transmitting instead of measurement signal a test signal, value of which depends functionally on Xref, obtaining the indication Yic reading on the IC information processing device and / or displaying device when the test signal is received, metrological characteristics of the IC and/or its components are calculated taking into account values of Xref and YIC. According to second variant of the method, the channel includes the MI with digital and analog outputs, the MI analog output is connected to cable lines of IC, which transmits obtained readings to one input of a calculation unit (CU) and another CU input is connected directly to the MI digital output via digital data interface, wherein CU calculates the IC metrological characteristics according to preset program. Dans une première variante, l'invention concerne un procédé de détermination des caractéristiques métrologiques (MC) de canaux d'instruments (IC) comprenant l'entrée d'une valeur de référence Xref dans l'instrument de mesure (MI), la suspension de la sortie d'un signal de mesure, dont la valeur dépend fonctionnellement du paramètre mesuré, l'émission en remplacement du signal de mesure d'un signal de test, dont la valeur dépend fonctionnellement de Xref, l'obtention de l'indication Yic lue sur le dispositif de traitement d'informations IC et/ou le dispositif d'affichage lorsque le signal de test est reçu, les caractéristiques métrologiques de l'IC et/ou de ses composants étant calculées en tenant compte des valeurs de Xref et de YIC. Selon une seconde variante du procédé, le canal comprend le MI avec des sorties numériques et analogiques, la sortie analogique du MI est connectée aux lignes de câble des CI, qui transmet les lectures obtenues à une entrée d'une unité de calcul (CU), et une autre entrée de la CU est connectée directement à la sortie numérique du MI par le biais d'une interface de données numériques, la CU calculant les caractéristiques métrologiques des CI selon un programme prédéfini.