X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER
A total analysis time indicating means provided in a scanning X-ray fluorescence spectrometer according to the present invention measures, for each kind of a sample to be analyzed, a reference sample for which the content of each component is known as a reference value, to obtain measured intensity...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | A total analysis time indicating means provided in a scanning X-ray fluorescence spectrometer according to the present invention measures, for each kind of a sample to be analyzed, a reference sample for which the content of each component is known as a reference value, to obtain measured intensity for each measurement line corresponding to each component. The total analysis time indicating means further uses, for each component, a reference value and measured intensity to calculate the counting time for obtaining a designated analysis accuracy, and calculates a total counting time as the total of counting times for the components. The total analysis time indicating means calculates a total analysis time as the sum of the total counting time and a total non-counting time, and outputs the calculated total analysis time and the calculated counting time for each component.
Un moyen d'indication de temps d'analyse total compris dans un analyseur de rayons X fluorescents à balayage selon la présente invention mesure, pour chaque type d'un échantillon à analyser, un échantillon de référence pour lequel la teneur de chaque composant est connue sous la forme d'une valeur de référence, afin d'obtenir une intensité mesurée pour chaque ligne de mesure correspondant à chaque composant. Le moyen d'indication de temps d'analyse total utilise en outre, pour chaque composant, une valeur de référence et une intensité mesurée afin de calculer le temps de comptage nécessaire pour obtenir une précision d'analyse désignée, et calcule un temps de comptage total en tant que total de temps de comptage des composants. Le moyen d'indication de temps d'analyse total calcule un temps d'analyse total en tant que somme du temps de comptage total et d'un temps de non-comptage total, et émet en sortie le temps d'analyse total calculé et le temps de comptage calculé pour chaque composant.
本発明の走査型蛍光X線分析装置が備えるトータル分析時間表示手段は、分析対象の試料の品種ごとに、成分の含有率が標準値として既知である標準試料を測定して成分に対応する測定線ごとに測定強度を求める。トータル分析時間表示手段は、さらに、成分ごとに、標準値および測定強度を用いて、指定された分析精度が得られる計数時間を計算するとともに、各成分の計数時間の合計として合計計数時間を計算する。トータル分析時間表示手段は、その合計計数時間と合計非計数時間との和としてトータル分析時間を計算し、計算したトータル分析時間および計算した各成分の計数時間を出力する。 |
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