LASER PROCESSING HEAD AND LASER PROCESSING DEVICE
In the present invention, infrared rays (IR) radiated from protective glass (24) are reflected by an emission end-face of a beam splitter (23). A detection unit (27) detects the infrared ray intensity of the infrared rays (IR) reflected by the beam splitter (23). A determination unit (31) determines...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; jpn |
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Zusammenfassung: | In the present invention, infrared rays (IR) radiated from protective glass (24) are reflected by an emission end-face of a beam splitter (23). A detection unit (27) detects the infrared ray intensity of the infrared rays (IR) reflected by the beam splitter (23). A determination unit (31) determines the state of the protective glass (24) on the basis of the value detected by the detection unit (27).
Dans la présente invention, des rayons Infrarouges (IR) rayonnés à partir de verre de protection (24) sont réfléchis par une face d'extrémité d'émission d'un séparateur de faisceau (23). Une unité de détection (27) détecte l'intensité de rayon infrarouge des rayons infrarouges (IR) réfléchis par le séparateur de faisceau (23). Une unité de détermination (31) détermine l'état du verre de protection (24) sur la base de la valeur détectée par l'unité de détection (27).
保護ガラス(24)から放射された赤外線(IR)がビームスプリッタ(23)の出射端面で反射される。検出部(27)では、ビームスプリッタ(23)で反射された赤外線(IR)の赤外線量が検出される。判定部(31)では、検出部(27)の検出値に基づいて、保護ガラス(24)の状態が判定される。 |
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