SYSTEM AND METHOD FOR OPTICAL IMAGING AND MEASUREMENT OF OBJECTS

There are provided systems and methods for imaging, measuring an object, and characterizing a sample. An optical, speckle-based imaging system may comprise an illumination unit comprising at least one coherent light source to illuminate a sample; a collection unit for collecting input light from the sample, the collection unit consisting of an imaging optics and a wavefront imaging sensor; and a control unit coupled to the illumination unit and the collection unit for analyzing the input light and generating a speckle wavefront image, wherein the at least one coherent light source is to generate primary speckles in the sample or thereon, and the imaging optics is to capture a secondary speckle pattern induced by the illumination unit in the sample or thereon. Systèmes et procédés d'imagerie, de mesure d'un objet et de caractérisation d'un échantillon. Un système d'imagerie optique à base de chatoiement peut comprendre une unité d'éclairage comprenant au moins une source de lumière cohérente pour éclairer un échantillon; une unité de collecte pour collecter la lumière d'entrée provenant de l'échantillon, l'unité de collecte étant constituée d'une optique d'imagerie et d'un capteur d'imagerie de front d'onde; et une unité de commande couplée à l'unité d'éclairage et à l'unité de collecte pour analyser la lumière d'entrée et générer une image de front d'onde à chatoiement, la ou les sources de lumière cohérente étant destinées à générer des chatoiements primaires dans l'échantillon ou sur celui-ci, et l'optique d'imagerie étant destinée à capturer un motif de chatoiement secondaire induit par l'unité d'éclairage dans l'échantillon ou sur celui-ci.