LEAD CONDITION TESTING IN AN IMPLANTED CARDIAC DEVICE

Some embodiments relate to a method of testing a lead condition in an implanted cardiac device comprising a first defibrillation lead and a second non-defibrillation lead, the method comprising: measuring impedance between the first defibrillation lead and the second non-defibrillation lead by apply...

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1. Verfasser: PRUTCHI, David
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Some embodiments relate to a method of testing a lead condition in an implanted cardiac device comprising a first defibrillation lead and a second non-defibrillation lead, the method comprising: measuring impedance between the first defibrillation lead and the second non-defibrillation lead by applying a test pulse; and determining a condition of at least one of the defibrillation lead and the non-defibrillation lead according to the measured impedance value. Certains modes de réalisation concernent un procédé de test d'un état conducteur dans un dispositif cardiaque implanté comprenant un premier fil de défibrillation et un second fil de non-défibrillation, le procédé comprenant les étapes consistant à : mesurer l'impédance entre le premier conducteur de défibrillation et le second fil de non-défibrillation par application d'une impulsion de test; et déterminer une condition d'au moins l'un du fil de défibrillation et du fil de non-défibrillation selon la valeur d'impédance mesurée.