METHOD FOR DETERMINING DETERIORATION OF LED LIGHT SOURCE, DETERIORATION DETERMINATION SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM
In this method for determining deterioration of an LED light source including a plurality of LED elements, the current and voltage supplied to the LED light source for the purpose of lighting the plurality of LED elements are measured, the temperature is measured by a temperature sensor provided to...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; jpn |
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Zusammenfassung: | In this method for determining deterioration of an LED light source including a plurality of LED elements, the current and voltage supplied to the LED light source for the purpose of lighting the plurality of LED elements are measured, the temperature is measured by a temperature sensor provided to the LED light source, the measured current and voltage and a history of temperatures measured by the temperature sensor are used as a basis to calculate a representative value for the junction temperature of the plurality of LED elements at the time of lighting, and the deterioration state of the LED light source is determined on the basis of the relationship between the representative value and the lighting time of the plurality of LED elements.
La présente invention concerne un procédé destiné à déterminer la détérioration d'une source de lumière à DEL incluant une pluralité d'éléments de DEL, le courant et la tension alimentant la source de lumière à DEL dans le but d'éclairer la pluralité d'éléments de DEL sont mesurés, la température est mesurée par un capteur de température appliqué à la source de lumière à DEL, le courant et la tension mesurés et un historique de températures mesurées par le capteur de température servent de base pour calculer une valeur représentative pour la température de jonction de la pluralité d'éléments de DEL au moment de l'éclairage, et l'état de détérioration de la source de lumière à DEL est déterminé sur la base de la relation entre la valeur représentative et le temps d'éclairage de la pluralité d'éléments de DEL.
複数のLED素子を含むLED光源の劣化を判定する方法において、前記複数のLED素子を点灯させるために前記LED光源に供給される電流及び電圧を計測し、前記LED光源に設けられた温度センサにより温度を測定し、計測した電流及び電圧、並びに前記温度センサにより測定した温度の履歴に基づいて、点灯時の前記複数のLED素子のジャンクション温度の代表値を計算し、前記代表値と前記複数のLED素子の点灯時間との関係に基づいて、前記LED光源の劣化状態を判定する。 |
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