SYSTEM AND METHOD FOR ESTIMATING BOTH THICKNESS AND WEAR STATE OF REFRACTORY MATERIAL OF A METALLURGICAL FURNACE

The invention relates mainly to a system for estimating both thickness and wear state of refractory material (1) of a metallurgical furnace (12), comprising at least processing means comprising a database of simulated frequency domain data named simulated spectra representing simulated shockwaves re...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: FERNÁNDEZ DIÉGUEZ, Enol, FERNANDEZ ALVAREZ, José Paulino, BAQUET GONZÁLEZ, Ignacio, SÍMARO, José Tomás, HERRERO BLANCO, Ignacio, GÓMEZ GARCÍA, Pablo, SUÁREZ LÁZARE, Carlos Javier
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:The invention relates mainly to a system for estimating both thickness and wear state of refractory material (1) of a metallurgical furnace (12), comprising at least processing means comprising a database of simulated frequency domain data named simulated spectra representing simulated shockwaves reflected in simulated refractory materials of known state and thickness, each simulated spectrum being correlated with both known state and thickness data of the considered simulated refractory material, wherein the processing means are configured to record a reflected shock wave as a time domain signal, and to convert it into frequency domain data named experimental spectrum, and are further configured to compare the experimental spectrum with at least a plurality of simulated spectra from the database, to determine the best fitting simulated spectrum with the experimental spectrum and to estimate thickness and state of the refractory material (1) of the furnace (12) using known state and thickness data correlated with the best fitting simulated spectrum. L'invention se rapporte principalement à un système permettant d'estimer à la fois l'épaisseur et l'état d'usure d'un matériau réfractaire (1) d'un four métallurgique (12), comprenant au moins des moyens de traitement comprenant une base de données de données de domaine fréquentiel simulées appelées spectres simulés représentant des ondes de choc simulées réfléchies dans des matériaux réfractaires simulés d'état et d'épaisseur connus, chaque spectre simulé étant corrélé à des données à la fois d'état et d'épaisseur connues du matériau réfractaire simulé considéré, les moyens de traitement étant configurés pour enregistrer une onde de choc réfléchie en tant que signal de domaine temporel, et pour convertir cette dernière en données de domaine de fréquence nommées spectre expérimental, et sont en outre configurés pour comparer le spectre expérimental à au moins une pluralité de spectres simulés provenant de la base de données, pour déterminer le meilleur spectre simulé d'ajustement avec le spectre expérimental et pour estimer l'épaisseur et l'état du matériau réfractaire (1 ) du four (12) à l'aide de données d'état et d'épaisseur connues corrélées avec le meilleur spectre simulé d'ajustement.