DEVICE AND METHOD FOR GENERATING DEFECT IMAGE

A method for generating a defect image by a defect image generation device, according to an embodiment of the present invention, may comprise the steps of: receiving a normal image and a masking image obtained by masking a defect shape; canceling the masked defect shape of the masking image from the normal image; and in order to generate a defect image, inputting the normal image with the defect shape canceled therefrom into a trained artificial neural network to generate the defect image. L'invention concerne, selon un mode de réalisation, un procédé de génération d'une image de défaut par un dispositif de génération d'image de défaut, ledit procédé pouvant consister : à recevoir une image normale et une image de masquage obtenue par masquage d'une forme de défaut ; à supprimer la forme de défaut masquée de l'image de masquage à partir de l'image normale ; et pour générer une image de défaut, à entrer l'image normale dont la forme de défaut a été supprimée à partir de cette dernière dans un réseau neuronal artificiel entraîné pour générer l'image de défaut. 본 발명의 실시예에 따른 불량 이미지 생성 장치에 의해 수행되는 불량 이미지 생성 방법은, 정상 이미지와 불량 모양을 마스킹한 마스킹 이미지를 수신하는 단계, 정상 이미지에서 마스킹 이미지의 마스킹된 불량 모양을 제거하는 단계, 및 불량 이미지 생성을 위해 불량 모양이 제거된 정상 이미지를 학습된 인공 신경망에 입력하여 불량 이미지를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.