PROBE SYSTEMS AND METHODS FOR TESTING A DEVICE UNDER TEST

Probe systems and methods for testing a device under test are disclosed herein. The probe systems include an electrically conductive ground loop and a structure that is electrically connected to a ground potential via at least a region of the electrically conductive ground loop. The probe systems also include nonlinear circuitry. The nonlinear circuitry is configured to resist flow of electric current within the ground loop when a voltage differential across the nonlinear circuitry is less than a threshold voltage differential and permit flow of electric current within the ground loop when the voltage differential across the nonlinear circuitry is greater than the threshold voltage differential. The methods include positioning a device under test (DUT) within a probe system that includes an electrically conductive ground loop and nonlinear circuitry. The methods also include selectively resisting and permitting electric current flow within the ground loop and through the nonlinear circuitry. L'invention concerne des systèmes de sonde et des procédés permettant de tester un dispositif à tester. Les systèmes de sonde comprennent un circuit de masse électroconducteur et une structure qui est électriquement connectée à un potentiel de masse par l'intermédiaire d'au moins une région du circuit de masse électroconducteur. Les systèmes de sonde comprennent également des circuits non linéaires. Les circuits non linéaires sont conçus pour résister au passage d'un courant électrique à l'intérieur du circuit de masse lorsqu'un différentiel de tension dans les circuits non linéaires est inférieur à un différentiel de tension seuil, et pour permettre le passage du courant électrique à l'intérieur du circuit de masse lorsque le différentiel de tension dans les circuits non linéaires est supérieur au différentiel de tension seuil. Les procédés comprennent le positionnement d'un dispositif à tester (DUT) dans un système de sonde qui comprend un circuit de masse électroconducteur et des circuits non linéaires. Les procédés consistent également et de façon sélective à s'opposer au passage d'un courant électrique à l'intérieur du circuit de masse et dans les circuits non linéaires et à l'autoriser.